Die Herausforderung bei der automatisierten Erfassung von Partikeln auf nicht optisch glatten Oberflächen, bildet das Erzeugen eines ausreichenden Kontrastes zwischen Partikel und Oberfläche.

Mit einem herkömmlichen optischen Messsystem mit regulärer Beleuchtung kann nicht unterscheiden werden, ob eine bestimmte Struktur der Oberfläche angehört oder durch einem Partikel hervorgerufen wird.

Zur Lösung dieser Fragestellung wurde am Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA ein Messverfahren entwickelt, das auf dem Einsatz der Streiflichttechnik zur Oberflächenbeleuchtung basiert.

Dieses Verfahren ermöglicht es, den rauen Untergrund von den darauf liegenden Partikeln wie ein Filter optisch zu trennen. Das reproduzierbare Verfahren ist integrierbar und automatisierbar.

Das durch das Streiflichtverfahren erzeugte Bild ist so kontraststark, dass die partikulären Kontaminationen auf technischen Oberflächen direkt durch die Bildverarbeitung ausgewertet werden kann.

• Sofortige Ergebnisausgabe
• Anzahl und Größe der Partikel
  
• Direkte Messung
  
• Zerstörungsfrei, Reproduzierbar
• Portabel durch Akkubetrieb
  
• Integrierbar in Prozessanlagen
  

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Zur Prüfung der Oberfläche wird die relative Änderung der Leuchtdichte, aufgrund der Beeinflussung durch dünne Schichen, gemessen. Durch Referenzierung auf einer definierten sauberen Oberfläche wird eine Soll-Wert aufgenommen. In anschliessenden Vergleichsmessungen können Rückschlüsse auf Kontaminationsfilme, wie z.B. Öle, Fette, Kühlschmierstoffe oder Korrosionsschutz gezogen werden.

Das Messsystem wird durch variabel einstellbare Alarmgrenzen individuell auf die jeweilige Messaufgabe eingestellt um eine IO (in Ordnung) bzw. nIO (nicht in Ordnung) Aussage über den Prüfling zu treffen.

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